طیف سنجی فلوئورسانس اشعه ایکس
طیف‌سنجی فلوئورسانس اشعۀ ایکس (X-ray fluorescence spectrometry)
تکنیکی برای شناسایی عناصر کمیاب[۱] و عمده در ترکیب شیمیایی برخی مواد، ازجمله سرامیک‌ها[۲]، ابسیدین[۳]، و شیشه[۴]. در این تکنیک، نمونه را با اشعۀ ایکس بمباران می‌کنند و طول موج‌ها[۵]ی انرژی آزادشده یا اشعۀ ایکس فلوئورسنت[۶] آشکار و اندازه‌گیری می‌شود. عناصر گوناگون طول موج‌هایی ویژۀ خود دارند و غلظت آن‌ها را می‌توان برمبنای شدت اشعۀ ایکس آزادشده تخمین زد. این نوع آنالیز ممکن است به باستان‌شناسان برای شناسایی منبع مواد کمک کند.